如何巧妙的避免微型光譜儀誤差呢？從幾個(gè)方面進行(xíng)分析

點擊次數：2018 更新時(shí)間(jiān)：2021-05-26

　　微型光譜儀主要适用于科研院所、高(gāo)等院校(xiào)物理(lǐ)和(hé)化學實驗室、生(shēng)物及醫(yī)學領域等光學方面，研究物質成分的判定與确認；還(hái)可(kě)以應用于刑偵及珠寶行(xíng)業進行(xíng)的檢測及寶石的鑒定。以其結構簡單、操作(zuò)簡便、測量快速，以低(dī)波數測量能力著稱；采用共焦光路設計以獲得(de)更高(gāo)分辨率，可(kě)對樣品表面進行(xíng)um級的微區(qū)檢測，也可(kě)用此進行(xíng)顯微影(yǐng)像測量。

　　如何巧妙的避免微型光譜儀誤差呢？雖然準确性高(gāo)，但(dàn)由于很(hěn)多(duō)因素的影(yǐng)響導緻存在一定的誤差，下面請(qǐng)聽(tīng)小(xiǎo)編從以下幾個(gè)方面進行(xíng)分析。

　　一、系統誤差的來(lái)源

　　1.标樣和(hé)試樣中的含量和(hé)化學組成不*相同時(shí)，可(kě)能引起基體(tǐ)線和(hé)分析線的強度改變，從而引入誤差。

　　2.标樣和(hé)試樣的物理(lǐ)性能不*相同時(shí)，激發的特征譜線會(huì)有(yǒu)差别從而産生(shēng)系統誤差。

　　3.澆注狀态的鋼樣與經過退火(huǒ)、淬火(huǒ)、回火(huǒ)、熱軋、鍛壓狀态的鋼樣金屬組織結構不相同時(shí)，測出的數據會(huì)有(yǒu)所差别。

　　4.未知元素譜線的重疊幹擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統誤差。

　　5.要消除系統誤差，必須嚴格按照标準樣品制(zhì)備規定要求。為(wèi)了檢查系統誤差，就需要采用化學分析方法分析多(duō)次校(xiào)對結果。

　　二、偶然誤差的來(lái)源

　　與樣品成分不均勻有(yǒu)關的誤差。因為(wèi)光電(diàn)光譜分析所消耗的樣品很(hěn)少(shǎo)，樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性，導緻不同部位的分析結果不同而産生(shēng)偶然誤差。主要原因如下：

　　1.熔煉過程中帶入夾雜物，産生(shēng)的偏析等造成樣品元素分布不均。

　　2.試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。

　　3.磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時(shí)間(jiān)太長和(hé)壓上(shàng)指紋等因素。

　　4.要減少(shǎo)偶然誤差，就要精心取樣，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可(kě)以重複多(duō)次分析來(lái)降低(dī)分析誤差。

　　三、其他因素誤差

　　1.氩氣不純。當氩氣中含有(yǒu)氧和(hé)水(shuǐ)蒸氣時(shí)，會(huì)使激發斑點變壞。如果氩氣管道(dào)與電(diàn)極架有(yǒu)污染物排不出去，分析結果會(huì)變差。

　　2. 微型光譜儀室內(nèi)溫度的升高(gāo)會(huì)增加光電(diàn)倍增管的暗電(diàn)流，降低(dī)信噪比。濕度大(dà)容易導緻高(gāo)壓元件發生(shēng)漏電(diàn)、放電(diàn)現象，使分析結果不穩定。

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