如何巧妙的避免紫外光譜儀誤差呢？

　　紫外光譜儀是一款針對紫外光/可(kě)見光測量應用的預配置的微型光譜儀，這款隻有(yǒu)手掌大(dà)小(xiǎo)的高(gāo)性能光譜儀波長範圍達到200-850納米，為(wèi)您的測量帶來(lái)更大(dà)的靈活性，依靠模塊化設計，是物質中分子吸收200-800nm光譜區(qū)內(nèi)的光而産生(shēng)的，這種分子吸收光譜産生(shēng)于價電(diàn)子和(hé)分子軌道(dào)上(shàng)的電(diàn)子在電(diàn)子能級躍遷原子或分子中的電(diàn)子，總是處在某一種運動狀态之中，每一種狀态都具有(yǒu)一定的能量，屬于一定的能級。
 

　　這些(xiē)電(diàn)子由于各種原因如受光、熱、電(diàn)的激發而從一個(gè)能級轉到另一個(gè)能級，稱為(wèi)躍遷。當這些(xiē)電(diàn)子吸收了外來(lái)輻射的能量就從一個(gè)能量較低(dī)的能級躍遷到一個(gè)能量較高(gāo)的能級。因此，每一躍遷都對應着吸收一定的能量輻射。
 

　　紫外光譜儀具有(yǒu)不同分子結構的各種物質，有(yǒu)對電(diàn)磁輻射顯示選擇吸收的特性，吸光光度法就是基于這種物質對電(diàn)磁輻射的選擇性吸收的特性而建立起來(lái)的，它屬于分子吸收光譜，是通(tōng)過對紫外光吸收的強弱判斷化合物種類和(hé)含量，對紫外光有(yǒu)吸收的一般都是些(xiē)特殊的離子，結果或者金屬離子。
 

　　如何巧妙的避免紫外光譜儀誤差呢？雖然準确性高(gāo)，但(dàn)由于很(hěn)多(duō)因素的影(yǐng)響導緻存在一定的誤差，下面請(qǐng)聽(tīng)小(xiǎo)編從以下幾個(gè)方面進行(xíng)分析。
 

　　一、系統誤差的來(lái)源
 

　　1.标樣和(hé)試樣中的含量和(hé)化學組成不*相同時(shí)，可(kě)能引起基體(tǐ)線和(hé)分析線的強度改變，從而引入誤差。
 

　　2.标樣和(hé)試樣的物理(lǐ)性能不*相同時(shí)，激發的特征譜線會(huì)有(yǒu)差别從而産生(shēng)系統誤差。
 

　　3.澆注狀态的鋼樣與經過退火(huǒ)、淬火(huǒ)、回火(huǒ)、熱軋、鍛壓狀态的鋼樣金屬組織結構不相同時(shí)，測出的數據會(huì)有(yǒu)所差别。
 

　　4.未知元素譜線的重疊幹擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統誤差。
 

　　5.要消除系統誤差，必須嚴格按照标準樣品制(zhì)備規定要求。為(wèi)了檢查系統誤差，就需要采用化學分析方法分析多(duō)次校(xiào)對結果。
 

　　二、偶然誤差的來(lái)源
 

　　與樣品成分不均勻有(yǒu)關的誤差。因為(wèi)光電(diàn)光譜分析所消耗的樣品很(hěn)少(shǎo)，樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性，導緻不同部位的分析結果不同而産生(shēng)偶然誤差。主要原因如下：
 

　　1.熔煉過程中帶入夾雜物，産生(shēng)的偏析等造成樣品元素分布不均。
 

　　2.試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。
 

　　3.磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時(shí)間(jiān)太長和(hé)壓上(shàng)指紋等因素。
 

　　4.要減少(shǎo)偶然誤差，就要精心取樣，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可(kě)以重複多(duō)次分析來(lái)降低(dī)分析誤差。
 

　　三、其他因素誤差
 

　　1.氩氣不純。當氩氣中含有(yǒu)氧和(hé)水(shuǐ)蒸氣時(shí)，會(huì)使激發斑點變壞。如果氩氣管道(dào)與電(diàn)極架有(yǒu)污染物排不出去，分析結果會(huì)變差。
 

　　2.紫外光譜儀室內(nèi)溫度的升高(gāo)會(huì)增加光電(diàn)倍增管的暗電(diàn)流，降低(dī)信噪比。濕度大(dà)容易導緻高(gāo)壓元件發生(shēng)漏電(diàn)、放電(diàn)現象，使分析結果不穩定。