微型光譜儀使用中的誤差有(yǒu)什麽

點擊次數：1737 更新時(shí)間(jiān)：2022-09-26

　　微型光譜儀可(kě)以檢測到元素周期表中90%以上(shàng)的元素，這些(xiē)元素覆蓋了我國商用發展以及合金等應用區(qū)域。主要是根據物質的光譜來(lái)鑒别物質及确定它的化學組成和(hé)相對含量，其優點是靈敏、方便、快捷。曾通(tōng)過光譜分析發現許多(duō)新元素，如铷，铯，氦等。

　　随着現代焊接技術的發展，對焊接質量檢測與控制(zhì)越來(lái)越重要。焊接電(diàn)弧光譜由于其自身信息量大(dà)、信噪比高(gāo)、介入性小(xiǎo)、測控精度高(gāo)等特點，在一些(xiē)場(chǎng)合得(de)到成功應用。電(diàn)弧光譜的應用領域包括：電(diàn)弧防護、光譜法測定電(diàn)弧的溫度場(chǎng)、氣體(tǐ)成分及濃度的測定與控制(zhì)等。因此對于不同焊接參數下電(diàn)弧光譜輻射及其變化特點的研究非常重要。

　　焊接光譜信息的采集和(hé)分析系統建議使用高(gāo)分辨率、多(duō)通(tōng)道(dào)光纖光譜儀，波長範圍200-1100 nm，光譜分辨率(FWHM)最高(gāo)可(kě)達0.05-0.06 nm，光譜采樣間(jiān)隔約0.02 nm。一分多(duō)光纖保證了光譜信号采集在時(shí)間(jiān)和(hé)空(kōng)間(jiān)上(shàng)的同步性。

　　根據微型光譜儀誤差的性質及産生(shēng)原因，誤差可(kě)分為(wèi)下面幾種：

　　1.系統誤差的來(lái)源

　　(1)标樣和(hé)試樣中的含量和(hé)化學組成不*相同時(shí)，可(kě)能引起基體(tǐ)線和(hé)分析線的強度改變，從而引入誤差。

　　(2)标樣和(hé)試樣的物理(lǐ)性能不*相同時(shí)，激發的特征譜線會(huì)有(yǒu)差别從而産生(shēng)系統誤差。

　　(3)澆注狀态的鋼樣與經過退火(huǒ)、淬火(huǒ)、回火(huǒ)、熱軋、鍛壓狀态的鋼樣金屬組織結構不相同時(shí)，測出的數據會(huì)有(yǒu)所差别。

　　(4)未知元素譜線的重疊幹擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統誤差。

　　(5)要消除系統誤差，必須嚴格按照标準樣品制(zhì)備規定要求。為(wèi)了檢查系統誤差，就需要采用化學分析方法分析多(duō)次校(xiào)對結果。

　　2.偶然誤差的來(lái)源

　　與樣品成分不均勻有(yǒu)關的誤差。因為(wèi)光電(diàn)光譜分析所消耗的樣品很(hěn)少(shǎo)，樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性，導緻不同部位的分析結果不同而産生(shēng)偶然誤差。主要原因如下：

　　(1)熔煉過程中帶入夾雜物，産生(shēng)的偏析等造成樣品元素分布不均。

　　(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。

　　(3)磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時(shí)間(jiān)太長和(hé)壓上(shàng)指紋等因素。

　　(4)要減少(shǎo)偶然誤差，就要精心取樣，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可(kě)以重複多(duō)次分析來(lái)降低(dī)分析誤差。

　　3.其他因素誤差

　　(1)氩氣不純。當氩氣中含有(yǒu)氧和(hé)水(shuǐ)蒸氣時(shí)，會(huì)使激發斑點變壞。如果氩氣管道(dào)與電(diàn)極架有(yǒu)污染物排不出去，分析結果會(huì)變差。

　　(2)室內(nèi)溫度的升高(gāo)會(huì)增加光電(diàn)倍增管的暗電(diàn)流，降低(dī)信噪比。濕度大(dà)容易導緻高(gāo)壓元件發生(shēng)漏電(diàn)、放電(diàn)現象，使分析結果不穩定。

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