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紫外可(kě)見光譜儀系統誤差的來(lái)源有(yǒu)哪些(xiē)
紫外可(kě)見光譜儀又稱分光儀，廣泛為(wèi)認知的為(wèi)直讀光譜儀。以光電(diàn)倍增管等光探測器(qì)測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個(gè)入射狹縫，一個(gè)色散系統，一個(gè)成像系統和(hé)一個(gè)或多(duō)個(gè)出射狹縫組成。以色散元件将輻射源的電(diàn)磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上(shàng)（或掃描某一波段）進行(xíng)強度測定。光譜儀有(yǒu)多(duō)種類型，除在可(kě)見光波段使用的光譜儀外，還(hái)有(yǒu)紅外光譜儀和(hé)紫外光譜儀。按色散元件的不同可(kě)分為(wèi)棱鏡光譜儀、光栅光譜儀和(hé)幹涉光譜儀等。按探測方法分，有(yǒu)直接用眼觀察的分光鏡，用感光片記錄的攝譜儀，以及用光電(diàn)或熱電(diàn)元件探測光譜的分光光度計等。單色儀是通(tōng)過狹縫隻輸出單色譜線的光譜儀器(qì)，常與其他分析儀器(qì)配合使用。
紫外可(kě)見光譜儀系統誤差的來(lái)源有(yǒu)：
(1)标樣和(hé)試樣中的含量和(hé)化學組成不相同時(shí)，可(kě)能引起基體(tǐ)線和(hé)分析線的強度改變，從而引入誤差。
(2)标樣和(hé)試樣的物理(lǐ)性能不相同時(shí)，激發的特征譜線會(huì)有(yǒu)差别從而産生(shēng)系統誤差。
(3)澆注狀态的鋼樣與經過退火(huǒ)、淬火(huǒ)、回火(huǒ)、熱軋、鍛壓狀态的鋼樣金屬組織結構不相同時(shí)，測出的數據會(huì)有(yǒu)所差别。
(4)未知元素譜線的重疊幹擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統誤差。
(5)要消除系統誤差，必須嚴格按照标準樣品制(zhì)備規定要求。為(wèi)了檢查紫外可(kě)見光譜儀系統誤差，就需要采用化學分析方法分析多(duō)次校(xiào)對結果。