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手持式光譜儀在實際工作(zuò)中被測量的樣品,往往其成份是由多(duō)種元素組成,除待測元素以外的元素統稱為(wèi)基體(tǐ)。由于被測量的樣品中,其基體(tǐ)成份是變化的(這個(gè)變化一是指元素的變化,二是指含量的變化),手持式光譜儀直接影(yǐng)響待測元素特征X射線強度的測量。換句話(huà)說,待測元素含量相同,由于其基體(tǐ)成份不同,測量到的待測元素特征X射線強度是不同的,這就是基體(tǐ)效應。基體(tǐ)效應是X射線熒光定量分析的主要誤差來(lái)源之一。基體(tǐ)效應是個(gè)無法避免的客觀事實,其物理(lǐ)實質是激發(吸收)和(hé)散射造成特征X射線強度的變化,除待測元素外,基體(tǐ)成份中靠近待測元素的那(nà)些(xiē)元素對激發源的射線和(hé)待測元素特征X射線産生(shēng)光電(diàn)效應的幾率比輕元素(在地質樣品中一些(xiē)常見的主要造岩元素)的幾率大(dà)得(de)多(duō),也就是這些(xiē)鄰近元素對激發源發射的X射線和(hé)待測元素的特征X射線的吸收系數比輕元素大(dà)得(de)多(duō);輕元素對激發源放出的射線和(hé)待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大(dà)得(de)多(duō)。