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光譜測量可(kě)廣泛應用于許多(duō)不同的領域,如顔色測量、半導體(tǐ)領域裏的測量、化學成分的濃度測量等。光譜測量的核心是物質輻射或散射、透射或反射的光攜帶了該物質的屬性和(hé)條件的信息,如化學和(hé)物理(lǐ)成份等參數。
探測器(qì)是選擇合适測量光譜系統的關鍵。在确定了需要測量的波長範圍後,根據實驗的測試速度和(hé)精度要求,選擇合适的探測器(qì)。目前市場(chǎng)上(shàng)常見的光譜儀探測器(qì)為(wèi)CCD探測器(qì)、CMOS探測器(qì)和(hé)InGaAs探測器(qì)。
CCD探測器(qì)分為(wèi)背照式和(hé)前照式;對于在紫外區(qū)(200-350 nm)和(hé)近紅外區(qū)(900-1160 nm)既需要高(gāo)量子效率又需要高(gāo)信噪比和(hé)較大(dà)動态範圍的應用,背照式CCD探測器(qì)是不錯的選擇,但(dàn)是價格相對前照式較高(gāo)。
CMOS探測器(qì)測試速度快,可(kě)以在更短(duǎn)時(shí)間(jiān)內(nèi)獲取光譜,觸發延遲性能好并且在紫外波段靈敏度高(gāo),如果關注這些(xiē)要點推薦選擇CMOS探測器(qì)的光譜儀。
InGaAs探測器(qì)在近紅外區(qū)域有(yǒu)着*的靈敏度。InGaAs探測器(qì)的動态範圍受暗噪聲限制(zhì)。對于1750 nm以下的測量,探測器(qì)無需制(zhì)冷;對于需要擴展至2000-2500 nm波長範圍的應用,需要采用二級制(zhì)冷的探測器(qì)來(lái)降低(dī)暗噪聲。
除此之外,分辨率、靈敏度、雜散光、二級衍射效應、通(tōng)信接口等也是非常重要的參數。