影(yǐng)響光譜分析儀測量有(yǒu)哪些(xiē)內(nèi)在因素

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　　光譜分析儀一般應用于合金分析儀檢測、礦石元素含量測定和(hé)土壤重金屬現場(chǎng)分析。那(nà)麽如何保證手持光譜儀在使用中的順利應用?這需要在使用之前對設備進行(xíng)全面仔細的檢查。

　　在了解了光譜分析儀的投射測定的相關內(nèi)容後，我們再來(lái)看看影(yǐng)響測量的一些(xiē)內(nèi)在因素。

　　1.物理(lǐ)幹擾

　　物理(lǐ)幹擾是指在樣品轉移和(hé)蒸發過程中任何物理(lǐ)因素變化引起的幹擾效應。屬于此類幹擾的因素包括：測試溶液的粘度、溶劑的蒸氣壓、霧化氣體(tǐ)的壓力等。物理(lǐ)幹擾是非選擇性幹擾，對樣品元素的影(yǐng)響基本相似。

　　制(zhì)備類似于測試樣品的标準樣品是消除物理(lǐ)幹擾的常用方法。當樣品的成分未知或無法匹配時(shí)，可(kě)以使用标準添加方法或稀釋方法來(lái)減少(shǎo)和(hé)消除物理(lǐ)幹擾。

　　2.化學幹擾

　　化學幹擾是指由測試元件與其他組件之間(jiān)的化學相互作(zuò)用引起的幹擾效應。它主要影(yǐng)響測試元件的原子化效率，并且是原子吸收分光光度法中幹擾的主要來(lái)源。這是由于在液相或氣相中被測元素的原子與幹擾物質的組成之間(jiān)形成了熱力學更穩定的化合物，這影(yǐng)響了被測元素化合物的離解和(hé)原子化。

　　消除化學幹擾的方法包括：化學分離;使用高(gāo)溫火(huǒ)焰;加入釋放劑和(hé)保護劑等。

　　3.電(diàn)離幹擾

　　高(gāo)溫下原子的電(diàn)離會(huì)降低(dī)基态原子的濃度，并導緻原子吸收信号降低(dī)，這種幹擾稱為(wèi)電(diàn)離幹擾。電(diàn)離效應随溫度和(hé)電(diàn)離平衡常數的增加而增加，而随被測元素濃度的增加而減小(xiǎo)。添加更容易電(diàn)離的堿金屬元素可(kě)以有(yǒu)效消除電(diàn)離幹擾。

　　4.光譜幹擾

　　光譜幹擾包括譜線重疊、光譜通(tōng)帶內(nèi)存在非吸收線、原子化池內(nèi)的直流發射、分子吸收、光散射等。當采用銳線光源和(hé)交流調制(zhì)技術時(shí)，前3種因素一般可(kě)以不予考慮，主要考慮分子吸收和(hé)光散射地影(yǐng)響，它們是形成光譜背景的主要因素。

　　5.分子吸收幹擾

　　分子吸收幹擾是指由原子化過程中産生(shēng)的氣體(tǐ)分子，氧化物和(hé)鹽分子吸收輻射引起的幹擾。光散射是指在霧化過程中生(shēng)成的固體(tǐ)顆粒會(huì)散射光，從而使散射光偏離光路，并且無法被檢測器(qì)檢測到，從而導緻高(gāo)吸收值。

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