熒光光譜儀能分析哪些(xiē)元素

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　　熒光光譜儀是較新型X射線熒光光譜儀，具有(yǒu)重現性好，測量速度快，靈敏度高(gāo)的特點。能分析F(9)～U(92)之間(jiān)所有(yǒu)元素。樣品可(kě)以是固體(tǐ)、粉末、熔融片，液體(tǐ)等，分析對象适用于煉鋼、有(yǒu)色金屬、水(shuǐ)泥、陶瓷、石油、玻璃等行(xíng)業樣品。無标半定量方法可(kě)以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果度對某些(xiē)樣品可(kě)以接近定量水(shuǐ)平，分析時(shí)間(jiān)短(duǎn)。薄膜分析軟件FP-MULT1能作(zuò)鍍層分析，薄膜分析。熒光光譜儀測量樣品的大(dà)尺寸要求為(wèi)直徑51mm,高(gāo)40mm.

　　熒光光譜儀分析方法是一個(gè)相對分析方法，任何制(zhì)樣過程和(hé)步驟必須有(yǒu)非常好的重複操作(zuò)可(kě)能性，所以用于制(zhì)作(zuò)标準曲線的标準樣品和(hé)分析樣品必須經過同樣的制(zhì)樣處理(lǐ)過程。熒光光譜儀實際上(shàng)又是一個(gè)表面分析方法，激發隻發生(shēng)在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個(gè)樣品是否有(yǒu)代表性。此外，樣品的平均粒度和(hé)粒度分布是否有(yǒu)變化，樣品中是否存在不均勻的多(duō)孔狀态等。樣品制(zhì)備過程由于經過多(duō)步驟操作(zuò)，還(hái)必須防止樣品的損失和(hé)沾污。

　　不同元素的熒光x射線具有(yǒu)各自的特定波長或能量，因此根據熒光x射線的波長或能量可(kě)以确定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間(jiān)距的晶體(tǐ)，由檢測器(qì)轉動的2e角可(kě)以求出x射線的波長入，從而确定元素成份。對于能量色散型光譜儀，可(kě)以由通(tōng)道(dào)來(lái)判别能量，從而确定是何種元素及成份。但(dàn)是如果元素含量過低(dī)或存在元素間(jiān)的譜線幹擾時(shí)，仍需人(rén)工鑒别。首先識别出x光管靶材的特征x射線和(hé)強峰的伴随線，然後根據能量标注剩餘譜線。在分析未知譜線時(shí)，要同時(shí)考慮到樣品的來(lái)源、性質等元素，以便綜合判斷。

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